Sensor Instruments
Entwicklungs- und Vertriebs GmbH
Schlinding 11
D-94169 Thurmansbang
Telefon +49 8544 9719-0
Telefax +49 8544 9719-13
info@sensorinstruments.de

Przetłumacz tę stronę:

Czym jest połysk?



Połyskiem obiektu nazywa się bezpośrednie odbicie światła w obszarze widzialnym. Bezpośrednie odbicie w jego "czystej postaci" można np. zaobserwować na powierzchni lustra, obowiązuje przy tym reguła: kąt padania = kątowi odbicia Kąt definiowany jest przez normalne do powierzchni.
Najczęściej występuje jednak odbicie mieszane, ponieważ powierzchnie posiadają różne nierówności (tzw. chropowatość). Niekierowany udział odbicia rośnie wraz ze wzrostem chropowatości. Oczywiście, należy uwzględnić fakt, że część padających promieni jest pochłaniana przez obiekt lub przez niego przechodzi.
 
Istnieje więc odbicie rozproszone i bezpośrednie. Dla pomiaru połysku interesujące jest ODBICIE BEZPOŚREDNIE, podczas gdy przy kontroli do oceny można stosować zarówno ODBICIE BEZPOŚREDNIE jak i ODBICIE ROZPROSZONE.


Odbicie rozproszone
Powierzchnia składa się z przypadkowo rozmieszczonych "lusterek" i tego powodu padające promienie odbijają się w różnych kierunkach.
 
Odbicie bezpośrednie
Powierzchnia składa się z "lusterek" rozmieszczonych w pewnym porządku i tego powodu padające promienie odbijają się w jednym kierunku.
 
Pomiar połysku: ODBICIE BEZPOŚREDNIE
Kontrola połysku: ODBICIE BEZPOŚREDNIE + ODBICIE ROZPROSZONE

Powierzchnie do wzorcowania
Do wzorcowania czujników do mierzenia połysku stosowane jest zwykle szkło czarne lub lusterko srebrne!

Obydwa produkty powinny mieć płaską powierzchnię. Oprócz tego odbicie następuje przez padające światło tylko z od jednej powierzchni (od warstwy lustra srebrnego odbicie jest prawie całkowite, w przypadku szkła czarnego tylko ok 5% padającego światła). Pozostałe padające promienie są całkowicie zaabsorbowane tak, że powierzchnia tylna nie posiada żadnego udziału w bezpośrednim odbiciu.
    
Szkło czarne
Część padającego światła odbitego przez szkło czarne służy jako wymiar referencyjny. Stopień połysku jest przy tym zdefiniowany na wartość 100 (jednostka: [1]). Stopień połysku (szkło czarne) = 100 ([1])

Lustro srebrne
Przy zastosowaniu lusterka srebrnego ta powierzchnia służy jako wartość referencyjna i jest ustalona na 100 (jednostka: [1]).


Kąt pomiaru 

20° from normal
Ta geometria pomiaru jest stosowana przede wszystkich w obiektach o wysokim połysku, jak np. aluminium czy folie z tworzywa sztucznego ale także płyty szklane pokryte odpowiednią warstwą.
 
W zależności od zastosowania czujnik połysku jest wzorcowany albo na szkle czarnym lub na lustrze srebrnym (tutaj występują specjalne wersje czujników).
 
45° from normal
Stopień połysku szkła czarnego wynosi 100[1] (w wersjach specjalnych na szkle srebrnym również 100[1]). Ta geometria stosowana jest prawie wyłącznie w przemyśle papierniczym do wykonywania pomiarów na powierzchniach papieru o wysokim połysku (tzw. standard TAPPI).
 
W tym przypadku wzorcowanie jest wykonywane z użyciem szkła czarnego. Stopień połysku szkła czarnego wynosi 100 [1].
 

60° from normal
Warianty stosowane najczęściej.. Można w sposób optymalny stosować do wszystkich obiektów od matowego do błyszczącego.

Także w tym przypadku należy wzorcować wyłącznie na szkle czarnym. Stopień połysku szkła czarnego wynosi 100 [1].

75° from normal
Ten przyrząd pomiarowy znajduje uprzywilejowane zastosowanie w przemyśle papierniczym. Także w tym przypadku można mierzyć powierzchnie papieru od matowej do błyszczącej (standard TAPPI).

Wzorcowanie następuje na szkle czarnym, stopień połysku wynosi 100 [1].
85° from normal
Z zastosowaniem tej geometrii mierzone są przede wszystkim bardzo matowe powierzchnie (np. matowe powierzchnie drewniane).

Wzorcowanie następuje także tutaj na szkle czarnym, którego stopień połysku wynosi również 100 [1].

Praktyczne przyrządy ręczne
Na rynku znajduje się cały szereg przyrządów OFFLINE (przyrządy ręczne), którymi można mierzyć stopień połysku, np. w laboratorium. W przypadku wytwarzania taśm przed uruchomieniem produkcji należy pobrać próbkę i przekazać ją do zbadania w laboratorium. Kolejne pobranie próbki powinno nastąpić po zakończeniu produkcji. Między rozpoczęciem i zakończeniem procesu produkcji nie ma potrzeby wykonywania pomiaru połysku. Natomiast podczas wytwarzania materiałów w formie płyt można pobierać próbki także w trakcie produkcji, metoda ta zajmuje jednak dużo czasu i pobrany materiał z reguły jest trudno wprowadzić ponownie do dalszego przetwarzania.

Zasadnicza budowa przyrządów ręcznych:
Za źródło światła służy zwykle żarówka, z pomocą układu optycznego nadajnika światło białe zostaje skierowane równolegle (średnica wiązki światła jest z zasady mniejsza od 10 mm), jedna część światła nadajnika jest oddzielona i trafia poprzez system optyczny (optyka referencyjna) do odbiornika referencyjnego, dzięki czemu następuje kompensacja ewentualnych przesunięć.
Większa część światła opuszcza jednak przyrząd do pomiaru połysku i trafia na mierzoną powierzchnię. Przyrząd ręczny musi przy tym leżeć na obiekcie, dzięki czemu zachowany jest właściwy odstęp oraz do odbiornika nie dochodzi żadne obce światło. Ilość zogniskowanego światła przez układ optyczny trafiającego do odbiornika przekazuje informacje o stopniu połysku. Ochrona układu optycznego zastosowana w przyrządach ręcznych służy jednocześnie wzorcowania, ponieważ na wewnętrznej stronie pokrywy umieszczone zostało szkło czarne.

Wady przyrządów ręcznych:
  • Możliwy TYLKO pomiar OFFLINE, konieczne jest pobranie próbki. Możliwy jest pomiar taśmy tylko początku i zakończeniu procesu produkcji.
  • Możliwy pomiar (w laboratorium) tylko próbki pobranej losowo, nie można przeprowadzić badania 100% produktu
  • Nie jest możliwe badanie bezdotykowe, ponieważ czujnik musi zostać położony na mierzonym obiekcie
  • Wrażliwość na światło obce, ponieważ jako źródło światła z reguły zastosowana została żarówka
  • Ograniczona żywotność źródła światła (żarówki)
  • Brak wyjść na przełączniku lub brak wyjść analogowych
 
Praktyczne przyrządy-INLINE (z Sensor Instruments GmbH)


Przyrządy INLINE są w zasadzie zbudowane podobnie jak przyrządy ręczne, jednak w wielu punktach różnią się:

Zalety przyrządów INLINE:
  • W miejsce żarówki zastosowano LED z białym światłem, dzięki czemu można modulować światło, a system pomiarowy jest niewrażliwy na obce wpływy.
  • W następstwie braku wrażliwości na obce światło system pomiarowy może pracować bezdotykowo w trybie INLINE.
  • Odgałęzienie służące do wykonania referencji zostało na zewnątrz, dzięki czemu wpływy otoczenia w równej mierze dotyczą odcinka pomiaru jak i odcinka referencyjnego.
  • Osłony układu optycznego wykonane są z płaskiego szkła, dzięki czemu znacznie łatwiejsze jest jego czyszczenie.
  • System posiada wyjścia na przełączniku oraz dwa wyjścia analogowe (wyjście napięciowe i prądowe)
  • Do dyspozycji znajduje się kilka złączy szeregowych (z pomocą konwerterów): RS232, USB i Ethernet.
  • Kilka linii w zespole multipleksera (do 8 linii pomiarowych) przedstawianych na monitorze (wskazanie trendu, numeryczne i graficzne wyświetlenie stopnia połysku, przedstawienie wartości średniej nastawionej wartości tolerancji oraz zapisanie daty pod określonym numerem zlecenia).
  • Ponieważ moc nadajnika białego światła LED może się zmieniać, istnieje możliwość zoptymalizowania mocy światła dla aktualnie mierzonej powierzchni.
  • Średnica wiązki światła specjalnego wynosi ok. 20 mm, dzięki czemu może być integrowana poprzez dużo większy wycinek powierzchni obiektu, aniżeli w przypadku przyrządów ręcznych. Przez to system pomiarowy jest niewrażliwy na miejscowe wahania. 

Pomiar połysku

Czujniki połysku INLINE produkcji Sensor Instruments GmbH pracują zgodnie z tymi samymi standardami pomiaru jak w przyrządach ręcznych. Wymagane przy stosowaniu INLINE zachowanie stabilności parametrów, pomiar bezdotykowy i brak wrażliwości na światło obce zostało tutaj tak samo potraktowane jak wygenerowanie odpowiednich sygnałów (analogowe i cyfrowe) do przekazania informacji o stopniu połysku. Podczas procesu Inline należy zwrócić uwagę na to, że w jednakowym czasie należy dokonywać pomiaru połysku w kilku pozycjach obiektu, czego wymaga tryb pracy multipleksera łącznie z zespołem monitorującym.

HARDWARE
Czujnik połysku składa się w istocie ze źródła światła (w SI: modulowane światło białe LED) w układzie optycznym nadajnika, rozdzielacza wiązki dzięki czemu część promieni wytwarzanych w nadajniku zostaje oddzielona i przekazana do odbiornika referencyjnego, układu optycznego odbiornika oraz właściwego odbiornika.

Geometria pomiaru
Czujniki połysku INLINE produkcji Sensor Instruments GmbH stoją do dyspozycji dla wszystkich ważnych standardów:






Interfacing
Czujnik połysku posiada 5 wyjść cyfrowych, które współpracują z SPS. Można przedstawić 31 stopni połysku (z odpowiednimi tolerancjami) (kodowanie binarne). Następnie do dyspozycji znajdują się dwa wyjścia analogowe, które przekazują dane dotyczące aktualnego stopnia połysku. Chodzi tutaj o wyjście napięciowe (0 V…10 V), podczas gdy drugie generuje sygnał prądowy (4 mA do 20 mA). Przekazanie danych następuje poprzez zintegrowane złącze szeregowe RS232. Poprzez zewnętrzny konwerter złącza szeregowego dla USB i przez Ethernet można tworzyć połączenie z innymi modułami. Zespół multipleksera M-PLEX-08 umożliwia połączenie nawet z 8 pomiarami połysku (czujniki RLS-GD), których wartości pomiarowe mogą być też przedstawiane przez zespół monitoringu (SI-PP320-10,4°) w sposób graficzny (pokazanie trendu) i graficzny (wartość aktualna i uśredniona). Oprócz tego istnieje możliwość zapisania danych w odniesieniu do zlecenia.

Software
Za pomocą Windows®-Software RLS-GD-Scope V4.8 można w wygodny i łatwy sposób wprowadzać parametry do czujnika. Oprogramowanie służy również do pokazywania ważniejszych parametrów, jak np. wartości nieprzetworzonej odbiornika referencyjnego lub odbiornika odbicia bezpośredniego.

Do najważniejszych parametrów do wprowadzenia należy zaliczyć:
  • Moc światła białego LED wyregulowana/niewyregulowana:
    POWER MODE: DYNAMIC/STATIC
    Nastawienie mocy światła w przypadku trybu STATIC:     
    0: LED wyłącz
    1000: LED maksimum
  • Utworzenie wartości średniej ustalonej wartości połysku:
    W trybie POWER MODE DYNAMIC sterownik zintegrowany w czujniku połysku próbuje wyregulować moc światła w taki sposób, żeby nieprzetworzona wartość sygnału referencyjnego ani nieprzetworzona wartość odbiornika odbicia bezpośredniego nie znajdowały się w górnej jednej trzeciej części obszaru dynamicznego (patrz: wskazanie na pasku na pulpicie obsługi).

  • Wartość średnia może być nastawiona w granicach 1 - 32000.
  • Nastawienie liczby stopni połysku, które mogą być generowane na wyjściach cyfrowych MAX-W6:
  • 5 stopni połysku może być generowanych bezpośrednio, w przypadku większej ilości generowanie może następować w przypadku kodowania binarnego.
  • Tryb analizy NORM lub GLOSS:
    W trybie analizy GLOSS następuje stałe porównywanie z sygnałem referencyjnym, który zawsze posiada taką wartość, która została ustalona podczas wzorcowania na szkle czarnym (lub lusterku srebrnym). Stosunek MESSKANAL/REFERENZ podczas wzorcowania stanowi punkt odniesienia. Teraz tryb GLOSS służy do pomiaru połysku, tryb NORM objaśniony został bliżej w rozdziale KONTROLA POŁYSKU.
     
  • Wyjście analogowe:
    Wartość analogowa nastawia zwykle stopień połysku od 0 do 100 dar (0 V…+10 V), ten zakres może zostać zmniejszony do współczynnika 10, tak że np. zakres stopni połysku od 5 do 15 może być generowana jako wartość analogowa od 0 V do 10 V (lub 4 mA do 20 mA).
     
  • Tabela stopni połysku
  • Wskazanie graficzne i numeryczne: Stopień połysku oraz wartość referencyjna i zmierzona są wyświetlane numerycznie, oprócz tego stopień połysku jest pokazywany w postaci graficznej.
    W tabeli Teach można umieścić do 31 różnych stopni połysku.
    W tym przypadku ustalane są również tolerancje. Można także wprowadzić jednakowy stopień połysku GN i w tabeli ustawić tolerancję GTO rosnącą od góry do dołu. Czujnik połysku analizuje wówczas tabelę od góry do dołu. Wartość, która pierwsza spełnia warunki (znajduje się w polu tolerancji) zostaje przekazana w formie numeru na wyjścia cyfrowe. W ten sposób przy pomocy tabeli Teach można dokonać podziału stopnia połysku na klasy (np. według rosnącej tolerancji lub w formie kaskadowej).

  • Wzorcowanie
    Za pomocą przycisku następuje przejście do okna CALIBRATE:
  • Można dokonać wyboru między wzorcowaniem na Target (z reguły jest to czarne szkło lub w przypadku RLS-GD-20/20°-UV także lusterko srebrne) albo też adaptację do przyrządu ręcznego. Dzięki temu można kompensować odchylenia między przyrządem INLINE a przyrządem do pomiary ręcznego. Operator posiada wówczas dwa przyrządy do dyspozycji, które pokazują tą samą wartość. Odchylenia powstają przede wszystkim z tego powodu, że wzorzec (czarne szkło) w przyrządzie ręcznym jest zabrudzone lub przyrządy są zużyte ze starości.
  • Za pomocą oprogramowania RLS-GD-MONITORING V4.8 do monitoringu w połączeniu z zespołem multipleksera MPLEX-08 lub z monitorem SI-PP320-10,4“ można przedstawiać jednocześnie stopnie połysku otrzymywane nawet z 8 czujników. Mogą być one pokazywane w formie numerycznej i także graficznej jako wskazanie trendu. Dla zapisanej wartości można przyporządkować określony numer zlecenia.

Kontrola połysku

RLS-GD Serie
Czujniki połysku RLS-GD Serie są doskonale przydatne także do kontroli połysku. W tym celu należy aktywować tryb analizy NORM w oprogramowaniu RLS-GD-Scope V4.8.

W tym trybie ustawiane jest odbicie bezpośrednie w stosunku do odbicia rozproszonego. Także tutaj w tabeli Teach można zapisać do 31 wartości połysku.

Można przy tym zmieniać manualnie zarówno wartość NORM jak także wartość tolerancji NORM. Tabela jest analizowana od góry do dołu. Pierwsza wartość w tabeli dotyczy aktualnie przetwarzanej wartości NORM i jest generowana na wyjścia cyfrowe bezpośrednio lub kodowana binarnie (w zależności od parametrów i liczby nauczonych wartości).


Do wyboru znajdują się następujące typy czujników połysku:

Oprócz wyjść cyfrowych przygotowane są dwa wyjścia analogowe, które przekazują informacje o wartości normowej: 1x wyjście napięciowe (0 V…+10 V) 1x wyjście prądowe (4 mA … 20 mA).


Do wprowadzania parametrów czujnika połysku oraz monitorowania nieprzetworzonych danych ustalonych wartości, także do kontroli połysku znajduje się oprogramowanie RLS-GD-Scope V… .
Nastawiany parametr, m. in. moc nadawania regulowana/nieregulowana (DYN/STAT), moc nadawania (w trybie STAT), tworzenie wartości średniej (AVERABE), liczba nauczonych wartości, połączenie wyjść (bezpośrednie lub podwójnie kodowane, z wydłużonym impulsem), tryb analizy, tolerancje tabeli Teach, mogą być wprowadzane łatwo i wygodnie w Windows®.

SPECTRO-1 Serie
Za pomocą czujnika SPECTRO-1-FIO w połączeniu ze światłowodem D-S-A2.0-2,5-1200-67° lub D-S-A3.0-1200-67° i uchwytem V (Typ KL-20/20°, KL-15/45°, KL-12/60°, KL-10/75° oraz KL-5/85°) można przeprowadzać kontrole w bardzo prosty i efektywny sposób. Układ sensoryczny generuje sygnał analogowy (0 V...+10 V lub 6 mA...20 mA) oraz dwa sygnały cyfrowe.
 
Poprzez oprogramowanie Windows® SPECTRO1-Scope V2.0 można nastawiać np. zakres tolerancji aktualnego stopnia połysku, moc światła, tworzenie wartości średniej oraz wzmocnienie. Następnie można aktywować funkcję EXTERNTEACH, co umożliwia łatwe uczenie poprzez sterowanie programem SPS.


Kontrola połysku koloru

Za pomocą kontroli połysku można uruchamiać cały szereg aplikacji. Pomimo to istnieją czasami problemy, kiedy wymagane jest, aby oprócz stopnia połysku dodatkowo sprawdzić jeszcze kolor.
SI-COLO-GD-40 stanowi system kontrolny, który służy do badania stopnia połysku oraz wartości koloru. Dzięki niemu można wykrywać najmniejsze różnice między różnymi produktami.
 
Czujnik połysku koloru SI-COLO-GD-40
Czujnik połysku koloru SI-COLO-GD-40 składa się w istocie z kombinacji czujników SI-COLO4-Serie połączonych z komponentami czujnika połysku RLS-GD Serie. Zastosowanymi źródłami światła są tutaj również lampki LED z białym światłem, które jest modulowane, dzięki czemu uzyskuje się wyższy poziom braku czułości na światło obce. Obok detektorów barw (wartości nieprzetworzone R, G, B) każdorazowo detektor przekazuje do sterownika zintegrowanego w czujniku połysku koloru (DIR) część światła (DIF) do odbicia bezpośredniego oraz do odbiornika do odbicia rozproszonego.



Ocena barwy następuje według algorytmów:


lub alternatywnie oferowane są w sensorach kolorów tzw. wartości s, i, M.

Ocena połysku odbywa się według następującego wzoru:  
 
Do dyspozycji sterownika obok danych nieprzetworzonych (R, G, B, DIR, DIF) znajdują się także parametry x, y, INT, GN oraz s, i, M, GN.
 
Podczas gdy x, y, INT lub s, i, M przekazują dane o wartości farby, wartość GN dostarcza informacji o samym połysku obiektu.
 
Do oceny stosowane następujące dane:

x, y, INT GN
s,i, M GN
x,y, INT, GN
s, i, M, GN

Proces uczenia następuje w taki sam sposób jak w przypadku czujników kolorów, jedynie wprowadzony został dodatkowo jeden parametr: GN!
 
Tabela z parametrami x, y, IMT i GN wygląda następująco:
Nb
x
y
INT
CTO
GN
GTO
0
 
 
 
 
 
 
1
 
 
 
 
 
 
2
 
 
 
 
 
 
3
 
 
 
 
 
 
x, y, INT GN

Nb
x
y
INT
CTO
GN
GTO
0
 
 
 
 
 
 
1
 
 
 
 
 
 
2
 
 
 
 
 
 
x, y, INT GN

A tabela z s, i, M oraz GN prezentuje się następująco:
Nb
x
y
INT
CTO
GN
GTO
0
 
 
 
 
 
 
1
 
 
 
 
 
 
2
 
 
 
 
 
 
3
 
 
 
 
 
 
s, i, M GN

Nb
s
i
M
GN
CGTO
0
 
 
 
 
 
1
 
 
 
 
 
2
 
 
 
 
 
3
 
 
 
 
 
s, i, M GN


Ocena zależy tutaj także od aktywowanego trybu wyboru:

BEST HIT
FIRST HIT
MINIMAL DISTANCE
 
W trybie oceny x, y, INT GN lub s, i, M GN pierwotnie następuje sprawdzenie, czy aktualna wartość połysku koloru znajduje się w podanym oknie tolerancji GN, a tym samym GTO. Następnie skontrolowane zostaje, czy spełniony jest warunek dla wartości koloru (wewnątrz CTO). Jeżeli w rachubę wchodzą jeszcze inne czynniki, następuje ich wybór zgodnie z nastawionym trybem (BEST HIT, FIRST HIT, MINIMAL DISTANCE, patrz: KONTROLA FARBY).
 
Natomiast w trybie oceny x, y, INT, GN lub s, i, M, GN następuje wybór połysku/koloru w "przestrzeni czterowymiarowej", tolerancja CGTO jest częścią obrazu czterowymiarowego. Także tutaj aktualna wartość koloru/połysku musi znajdować się wewnątrz obszaru tolerancji, jeżeli nauczona wartość koloru/połysku wchodzi w rachubę jako możliwy czynnik.

GRAFICZNE PRZEDSTAWIENIE TRYBU OCENY w x, y, INT GN lub s, i, M GN:
Wartość x, y, INT lub s, i, M jest pokazana w trzech widokach. Wyświetlenie wartości
GN następuje na pasku.
 
Zapisane wartości koloru/połysku:





Zapisane wartości koloru/połysku:





W trybie wyboru BEST HIT: Wartość połysku koloru 5
W trybie wyboru MINIMAL-DISTANCE: Wartość połysku koloru 5
W trybie wyboru FIRST HIT: Wartość połysku koloru 1

GRAFICZNE PRZEDSTAWIENIE TRYBU OCENY w x, y, INT, GN lub s, i, M, GN:
Wartość x, y, INT, GN lub s, i, M, GN jest pokazana w tych obydwu trybach w 6 widokach:

Zapisane wartości koloru/połysku:





Zapisane wartości koloru/połysku:








W trybie wyboru BEST HIT: Wartość połysku koloru 3
W trybie wyboru MINIMAL-DISTANCE: Wartość połysku koloru 3
W trybie wyboru FIRST HIT: Wartość połysku farby Ø

Windows ® Pulpit operatora SI-COLO-GD-SCOPE:




Kontrola połysku koloru za pomocą SPECTRO-3-50-FCL-30°/30°

Czujnik połysku koloru typ SPECTRO-3-50-FCL-30°/30° posiada dwa źródła światła, które stosowane są alternatywnie za pomocą sygnału wejściowego IN0. Czujnik jest stosowany przede wszystkim tam, istnieją małe różnice kolorów i połysku w obiektach i muszą takie pozostać. Jak np. w przypadku skóry lub jej imitacji, elementów z tworzywa sztucznego w przemyśle samochodowym lub meblowym do rozpoznawania folii z tworzywa sztucznego i laminatów.



Windows ® Pulpit operatora SPECTRO-3-SCOPE:



NEWS

Następne targi:

K 2019
Düsseldorf, Niemcy
16-23 październik 2019 r
więcej...

sps
smart production solutions

Norymberga, Niemcy
26-28 listopada 2019
r
więcej...

++++++++++++++++++++++++++

Nowa informacja prasowa:
Lśniące perspektywy!
więcej...

++++++++++++++++++++++++++

Nowe video:
Video szkoleniowe kontrola strumienia rozpylanej cieczy z L-LAS-TB-75-AL
więcej...

++++++++++++++++++++++++++

Nowe aplikacje:
Application News N°639-641
  • Wykrywanie spoin na rurach ze stali szlachetnej (N°639)
  • Rozpoznawanie wad spoiny na rurach ze stali szlachetnej (N°640)
  • Kontrola inline spoiny na rurach ze stali szlachetnej (N°641)
więcej...

++++++++++++++++++++++++++

Ważne uwagi dotyczące aktualizacji oprogramowania
więcej...




FIND US ON ....

Facebook Youtube in Xing Twitter

TOP